光纤光学自动测量系统

作者:凡尔电子 时间:2017-11-13
问题:
    某商业用户正在开发用于光纤光学数据\电信应用领域的激光和LED元器件。要求是通过自动检测系统来显示激光脉冲信号的特性。
    因为需要检测的振幅变化仅为1mV,所以要求采集卡的三个通道必须有较高的垂直分辨率。目标是重复频率为1KHz---5KHz,采样率50MSPs,每通道采样10000样点。并且希望在LabVIEW环境下开发一个软件界面。
 
解决方案:
    基于PCI总线的CompuScope 14100 A/D转换示波器卡可满足此项应用的要求:分辨率14bits、采样率100MS/s并可构成主/从模式。GaGe公司在多卡构成主/从模式方面很有研究,真正实现所有通道同步采样。GaGe公司的专利桥板技术确保从卡接收主卡的时钟和触发信号,实现同步采样。PCI总线主控功能可帮助获得所需的PRF。
    3个通道、50MS/S采样率同步采样即可满足项目要求。建议在输入前使用放大器,不过,14bits垂直分辨率也可以帮助探测到1mV的电压变化。在这些参数条件下采样10000个样点需占用采样时间合计200 µs,传输时间600 µs,rearm时间90 µs(每通道30 µs), PRF为890 µs---1.2KHz。同样,采样5000个样点PRF是2.9 KHz。这种方法可以达到此项应用的要求,因为户不经常占用3个通道,并且采集到的样点数量仍取决于该阶段。
    值得注意的是,严格地说,根据上述方法计算的PRF只能应用于单任务的DOS环境下。Window的多重任务和LabVIEW的高级子程序调用功能略低于这些速度。如果板卡在单记录模式下不能与所需的PRF相匹配,则可以使用多记录模式。在该模式下,无需CPU介入,CompuScope 14100通过硬件几乎瞬时开始re-arm。因此,操作具有决定性,并且不会遗漏触发。
    CompuScope LabVIEW SDK软件包可用于二次开发。程序开发由很多样点VI提供LabVIEW SDK进行启动。这些VI说明了GaGe板卡的不同功能,并且可以随意组合应用。包括前面板GUI‘s在内,缩短了程序开发时间。所有GaGe CompuScope SDK均由基于Windows应用程序的GaGeScope示波器软件标准版提供。GaGeScope专业版具有高速采集和分析的特点。

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